Хирш, Питер: различия между версиями

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к навигации Перейти к поиску
[отпатрулированная версия][отпатрулированная версия]
Содержимое удалено Содержимое добавлено
Нет описания правки
Нет описания правки
Строка 18: Строка 18:
<small>[[Медаль Хьюза]] (1973)<br />[[Королевская медаль]] (1977)<br />[[Премия Вольфа]] (1983)<br /> [[Большая золотая медаль имени М. В. Ломоносова]] (2005)</small>
<small>[[Медаль Хьюза]] (1973)<br />[[Королевская медаль]] (1977)<br />[[Премия Вольфа]] (1983)<br /> [[Большая золотая медаль имени М. В. Ломоносова]] (2005)</small>
}}
}}
{{однофамильцы|Хирш}}
'''Питер Хирш''' (род. 1925) — английский физик, член Лондонского Королевского общества (1963).
'''Питер Хирш''' (род. 1925) — английский физик, член Лондонского Королевского общества (1963).



Версия от 07:17, 18 августа 2014

Питер Хирш
нем. Peter Hirsch
Дата рождения 16 января 1925(1925-01-16)[1] (99 лет)
Место рождения Берлин
Страна
Род деятельности физик, инженер, металлург, преподаватель университета
Научная сфера физик
Место работы
Альма-матер Кембриджский университет (1946)
Научный руководитель Уильям Лоренс Брэгг
Награды и премии
Сайт materials.ox.ac.uk/peopl…

Питер Хирш (род. 1925) — английский физик, член Лондонского Королевского общества (1963).

С приходом к власти Гитлера вместе с семьей эмигрировал из Германии в Великобританию. Окончил Кембриджский университет, в котором начал работать в Департаменте физики. С 1966 г. — профессор Оксфордского университета (с 1992 г. — почётный профессор). В 1970 г. был назначен на должность председателя Комиссии по атомной энергии Великобритании. В 1975 г. за успешную работу получил титул рыцаря-бакалавра.

Основоположник метода просвечивающей электронной микроскопии. Разработал метод дифракционного контраста, который служит для наблюдения дефектов кристаллического строения веществ и применяется в физике, химии, минералогии, материаловедении, биологии. В 1956 г. со своими сотрудниками впервые наблюдал дислокации в кристаллах и их движение под пучком электронного микроскопа, чем заложил количественные основы теории дислокаций, что является физической основой теории прочности и пластичности.

Иностранный член РАН (2006) по отделению физических наук.

Примечания

  1. Peter Hirsch // SNAC (англ.) — 2010.

Литература